產(chǎn)品詳情
主要應(yīng)用
- 可測量基片上金屬、陶瓷、聚合物薄膜的熱物性參數(shù)，如熱擴(kuò)散系數(shù)、熱導(dǎo)率、吸熱系數(shù)和界面熱阻。
主要特點(diǎn)
- 精確的微米級薄膜導(dǎo)熱測量方法
- 可提供RF測量模式（后加熱-前檢測）和FF測量模式（前加熱-前檢測）
- PicoTR遵循國際校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
技術(shù)參數(shù)
- 溫度范圍：RT，RT … 500°C（選配）
- 測量模式：RF/FF
- 樣品尺寸：10×10 … 20×20mm
- 薄膜厚度：10nm … 900nm（取決于樣品種類和測量模式）
- 熱擴(kuò)散系數(shù)：0.01 … 1000mm2/s
- 主激光：脈沖寬度0.5ps；光束直徑45μm；激光功率20mW
如需詳細(xì)參數(shù)，請聯(lián)系我們
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通過認(rèn)證?[誠信檔案]
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